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- F10-RTFilmetrics 薄膜厚度測(cè)量?jī)x
Filmetrics F10-RT 薄膜厚度測(cè)量?jī)x以真空鍍膜為設(shè)計(jì)目標(biāo)，F(xiàn)10-RT 薄膜厚度測(cè)量?jī)x只要單擊鼠標(biāo)即可獲得反射和透射光譜。 只需簡(jiǎn)單操作。用戶(hù)就能進(jìn)行 FWHM 并進(jìn)行顏色分析。 可選的厚度和折射率模塊讓您能夠充分利用Filmetrics F10-RT 薄膜厚度測(cè)量?jī)x的分析能力。測(cè)量結(jié)果能被快速地導(dǎo)出和打印。
- 型號(hào)：F10-RT
- 更新日期：2025-06-24 ￥面議
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- F20Filmetrics 單點(diǎn)光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x
無(wú)論您是想要知道薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)，還是想要知道材料的反射率和透過(guò)率，F(xiàn)ilmetrics F20 單點(diǎn)光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x都能滿(mǎn)足您的需要。僅需花費(fèi)幾分鐘完成安裝，通過(guò)USB連接電腦，設(shè)備就可以在數(shù)秒內(nèi)得到測(cè)量結(jié)果?；谀K化設(shè)計(jì)的特點(diǎn)，F(xiàn)ilmetrics F20 單點(diǎn)光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x適用于各種應(yīng)用。
- 型號(hào)：F20
- 更新日期：2025-06-24 ￥面議
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- F40Filmetrics 光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x
Filmetrics F40 薄膜厚度測(cè)量?jī)x的光譜測(cè)量系統(tǒng)讓用戶(hù)簡(jiǎn)單快速地測(cè)量薄膜的厚度和光學(xué)常數(shù)，通過(guò)對(duì)待測(cè)膜層的上下界面間反射光譜的分析，幾秒鐘內(nèi)就可測(cè)量結(jié)果。當(dāng)測(cè)量需要在待測(cè)樣品表面的某些微小限定區(qū)域進(jìn)行，或者其他應(yīng)用要求光斑小至1微米時(shí)，可以使用Filmetrics F40 薄膜厚度測(cè)量?jī)x。使用先校正顯微鏡的物鏡，再進(jìn)行測(cè)量，即可獲得厚度及光學(xué)參數(shù)值。
- 型號(hào)：F40
- 更新日期：2025-06-24 ￥面議
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- F50Filmetrics 光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x自動(dòng)化MAPPING
Filmetrics F50 自動(dòng)Mapping膜厚測(cè)量?jī)x依靠光譜測(cè)量系統(tǒng)，可以簡(jiǎn)單且快速地獲得直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ極坐標(biāo)移動(dòng)平臺(tái)，可以快速的定位所需測(cè)試的點(diǎn)并測(cè)試厚度，測(cè)試非?？焖伲蠹s每秒能測(cè)試兩點(diǎn)。用戶(hù)可以自己繪制需要的點(diǎn)位地圖。Filmetrics F50 自動(dòng)Mapping膜厚測(cè)量?jī)x配置精度高使用壽命長(zhǎng)的移動(dòng)平臺(tái)，以求能夠做成千上萬(wàn)次測(cè)量。
- 型號(hào)：F50
- 更新日期：2025-06-24 ￥面議
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- F54-XY-200Filmetrics 自動(dòng)光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x
Filmetrics F54-XY-200 自動(dòng)光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x借助光譜反射系統(tǒng)，可以測(cè)量尺寸達(dá)200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動(dòng)XY工作臺(tái)自動(dòng)移動(dòng)到選定的測(cè)量點(diǎn)并提供厚度測(cè)量，達(dá)到每秒兩點(diǎn)。您可以從數(shù)十種預(yù)定義的極性，矩形或線(xiàn)性測(cè)量坐標(biāo)圖案中選擇，也可以創(chuàng)建自己編輯的測(cè)量點(diǎn)數(shù)量。此桌面系統(tǒng)只需幾分鐘即可完成設(shè)置，任何具有基本計(jì)算機(jī)技能的人都可以使用。
- 型號(hào)：F54-XY-200
- 更新日期：2025-06-24 ￥面議
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- F20-UV/F20-NIR/F20-EXRFilmetrics F20 白光干涉測(cè)厚儀儀
Filmetrics F20 白光干涉膜厚測(cè)量?jī)x是一款高精度、多功能的測(cè)量設(shè)備，能夠快速測(cè)定薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)、反射率和透過(guò)率等特性。其非接觸式測(cè)量方式適合各種脆弱或敏感材料，具備納米級(jí)分辨率，測(cè)量范圍廣（1nm-3mm）。該儀器適用于多種應(yīng)用場(chǎng)景，包括半導(dǎo)體、光學(xué)、生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域。F20膜厚儀可在數(shù)秒內(nèi)提供準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果，支持單層及多層薄膜分析，為科研和工業(yè)生產(chǎn)提供可靠支持。
- 型號(hào)：F20-UV/F20-NIR/F20-EXR
- 更新日期：2025-06-24 ￥面議
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- K系列Bowman XRF高精度鍍層測(cè)量?jī)x
Bowman博曼 K系列 XRF高精度涂層測(cè)量系統(tǒng)，具備12英寸×12英寸的測(cè)量區(qū)域，適用于多種樣品檢測(cè)。
- 型號(hào)：K系列
- 更新日期：2025-06-24 ￥面議
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- B系列Bowman XRF高精度鍍層測(cè)厚儀
Bowman B系列 XRF高精度鍍層測(cè)量系統(tǒng)是博曼的基礎(chǔ)機(jī)型和常規(guī)機(jī)型。該型號(hào)采用自上而下的測(cè)量方式。配備固定樣品臺(tái)可實(shí)現(xiàn)手動(dòng)操作。測(cè)量時(shí)將樣品放入樣品倉(cāng)，通過(guò)觀察視頻圖像來(lái)對(duì)準(zhǔn)屏幕上十字線(xiàn)內(nèi)的位置來(lái)完成測(cè)量。
- 型號(hào)：B系列
- 更新日期：2025-06-24 ￥面議
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