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- Auto SEHORIBA 橢圓偏振光譜儀
HORIBA Auto SE 橢圓偏振光譜儀是一種新型薄膜測量工具。僅需簡單的幾個按鈕，幾秒鐘內(nèi)即可自動完成樣品測量和分析，并提供完整的薄膜特性分析報告，包括薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)、表面粗糙度和薄膜的不均勻性、反射率或透過率。它是用于快速薄膜測量和器件質(zhì)量控制的解決方案。專為薄膜測量設(shè)計，一鍵式操作實現(xiàn)高效率。
- 型號：Auto SE
- 更新日期：2025-06-24 ￥面議
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- Smart SEHORIBA 橢圓偏振光譜儀
HORIBA Smart SE 橢圓偏振光譜儀是一種薄膜測量工具。僅需簡單的幾個按鈕，幾秒鐘內(nèi)即可自動完成樣品測量和分析，并提供完整的薄膜特性分析報告，包括薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)、表面粗糙度和薄膜的不均勻性、反射率或透過率。它是用于快速薄膜測量和器件質(zhì)量控制的解決方案。為薄膜測量設(shè)計，一鍵式操作。
- 型號：Smart SE
- 更新日期：2025-06-24 ￥面議
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- UVISEL PlusHORIBA 研究級橢圓偏振光譜儀
HORIBA UVISEL Plus 相位調(diào)制型橢圓偏振光譜儀基于新版的電子設(shè)備，數(shù)據(jù)處理和高速單色儀，F(xiàn)astacq技術(shù)能夠為用戶提供高分辨及快速的數(shù)據(jù)采集。FastAcq為薄膜表征特殊設(shè)計，雙調(diào)制技術(shù)使您可以獲得完整的測試結(jié)果。相位調(diào)制與消色差光學(xué)設(shè)計的結(jié)合提供了特別的膜厚測試效果。配備雙單色儀系統(tǒng)的特殊設(shè)計滿足用戶的期望值，通過模塊化的設(shè)計，更多的附件選擇，使得儀器使用能變得靈活。
- 型號：UVISEL Plus
- 更新日期：2025-06-24 ￥面議
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- FS-8Film Sense 多波長橢偏儀
Film Sense FS-8多波長橢偏儀采用壽命長 LED 光源和非移動 式部件橢偏探測器，可在操作簡單的緊湊型橢偏儀中實現(xiàn)可靠地薄膜測量。大多數(shù)厚度 0–1000 nm 的透明薄膜只需要簡單的 1 秒測量，就可以獲得準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)。還可以測量大多數(shù)樣品的光學(xué)常數(shù)和其他薄膜特性。
- 型號：FS-8
- 更新日期：2025-06-25 ￥面議
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