Filmetrics F20 單點(diǎn)光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x

Filmetrics F20 單點(diǎn)光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x產(chǎn)品介紹：

無(wú)論您是想要知道薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)，還是想要知道材料的反射率和透過(guò)率，Filmetrics F20 單點(diǎn)光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x都能滿足您的需要。僅需花費(fèi)幾分鐘完成安裝，通過(guò)USB連接電腦，設(shè)備就可以在數(shù)秒內(nèi)得到測(cè)量結(jié)果?；谀K化設(shè)計(jì)的特點(diǎn)，Filmetrics F20 單點(diǎn)光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x適用于各種應(yīng)用。

Filmetrics F20 單點(diǎn)光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x產(chǎn)品特點(diǎn)：

• 非接觸測(cè)量：避免損傷薄膜，適用于脆弱或敏感材料；

• 高精度與寬量程&：垂直分辨率達(dá)納米級(jí)，可測(cè)厚度范圍從1nm至3mm；

• 多場(chǎng)景適用性：基本上光滑的、半透明的或低吸收系數(shù)的薄膜都可以測(cè)量。

• 測(cè)量速度快：配置完成后，數(shù)秒內(nèi)即可完成測(cè)量。

Filmetrics F20 單點(diǎn)光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x測(cè)量原理：

當(dāng)入射光穿透不同物質(zhì)的界面時(shí)將會(huì)有部分的光被反射，由于光的波動(dòng)性導(dǎo)致從多個(gè)界面的反射光彼此干涉，從而使反射光的多波長(zhǎng)光譜產(chǎn)生震蕩的現(xiàn)象。從光譜的震蕩頻率，可以判斷不同界面的距離進(jìn)而得到材料的厚度（越多的震蕩代表越大的厚度），同時(shí)也能得到其他的材料特性如折射率與粗糙度。

Filmetrics F20 單點(diǎn)光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x膜層范例：

• 薄膜特性：厚度、反射率、透射率、光學(xué)常數(shù)、均勻性、刻蝕量等

• 薄膜種類(lèi)：透明及半透明薄膜，常見(jiàn)如氧化物、聚合物甚至空氣

• 薄膜狀態(tài)：固態(tài)、液態(tài)和氣態(tài)薄膜都可以測(cè)量

• 薄膜結(jié)構(gòu)：單層膜、多層膜；平面、曲面

Filmetrics F20 單點(diǎn)光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x常見(jiàn)工業(yè)應(yīng)用：

Filmetrics F20 單點(diǎn)光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x產(chǎn)品參數(shù)：

Filmetrics F20 單點(diǎn)光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x測(cè)量圖：