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Filmetrics F20 單點(diǎn)光學(xué)膜厚測量儀
2016/8/26 [3749]

無論您是想要知道薄膜厚度、光學(xué)常數(shù),還是想要知道材料的反射率和透過率,Filmetrics F20 單點(diǎn)光學(xué)膜厚測量儀都能滿足您的需要。僅需花費(fèi)幾分鐘完成安裝,通過USB連接電腦,設(shè)備就可以在數(shù)秒內(nèi)得到測量結(jié)果。基于模塊化設(shè)計的特點(diǎn),Filmetrics F20 單點(diǎn)光學(xué)膜厚測量儀適用于各種應(yīng)用。


Filmetrics F20 單點(diǎn)光學(xué)膜厚測量儀產(chǎn)品特點(diǎn):

  • 非接觸測量:避免損傷薄膜,適用于脆弱或敏感材料;

  • 高精度與寬量程&:垂直分辨率達(dá)納米級,可測厚度范圍從1nm至3mm;

  • 多場景適用性:基本上光滑的、半透明的或低吸收系數(shù)的薄膜都可以測量。

  • 測量速度快:配置完成后,數(shù)秒內(nèi)即可完成測量。


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